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高压电缆缓冲层烧蚀致绝缘屏蔽损伤的机理研究
高电压 | 更新时间:2026-01-08
    • 高压电缆缓冲层烧蚀致绝缘屏蔽损伤的机理研究

    • Research on Damaging Mechanisms of Insulation Shield Induced by Buffer Layer Ablation in High-voltage Cables

    • 中国电机工程学报   2026年46卷第1期 页码:445-454
    • DOI:10.13334/j.0258-8013.pcsee.241665    

      中图分类号:
    • 纸质出版:2026

    移动端阅览

  • 张可, 高建, 武康宁, 等. 高压电缆缓冲层烧蚀致绝缘屏蔽损伤的机理研究[J]. 中国电机工程学报, 2026,46(1):445-454. DOI: 10.13334/j.0258-8013.pcsee.241665.

    张可, 高建, 武康宁, et al. Research on Damaging Mechanisms of Insulation Shield Induced by Buffer Layer Ablation in High-voltage Cables[J]. 2026, 46(1): 445-454. DOI: 10.13334/j.0258-8013.pcsee.241665.

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