“华龙一号”辅助控制盘调试期间设备误动原因分析与改进研究

陈小希; 刘思洋; 刘建光

doi:10.20190/j.cnki.02580918.202604025

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“华龙一号”辅助控制盘调试期间设备误动原因分析与改进研究

仪控系统 | 更新时间：2026-10-16

- “华龙一号”辅助控制盘调试期间设备误动原因分析与改进研究
- “华龙一号”辅助控制盘调试期间设备误动原因分析与改进研究
- 核科学与工程 2026年46卷第4期页码：996-1002
- 作者机构：
  
  中广核工程有限公司深圳市核电数智调试先进技术重点实验室
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  深圳市科技计划资助项目(No.SYSRD20250529114159002)
- DOI：10.20190/j.cnki.02580918.202604025
  中图分类号： TM623
- 纸质出版：2026
- 稿件说明：
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陈小希, 刘思洋, 刘建光. “华龙一号”辅助控制盘调试期间设备误动原因分析与改进研究[J]. 核科学与工程, 2026,46(4):996-1002.

陈小希, 刘思洋, 刘建光. “华龙一号”辅助控制盘调试期间设备误动原因分析与改进研究[J]. 2026, 46(4): 996-1002.
陈小希, 刘思洋, 刘建光. “华龙一号”辅助控制盘调试期间设备误动原因分析与改进研究[J]. 核科学与工程, 2026,46(4):996-1002. DOI： 10.20190/j.cnki.02580918.202604025.

陈小希, 刘思洋, 刘建光. “华龙一号”辅助控制盘调试期间设备误动原因分析与改进研究[J]. 2026, 46(4): 996-1002. DOI： 10.20190/j.cnki.02580918.202604025.

摘要

基于“华龙一号”堆型辅组控制盘（ACP）调试期间发生的3起设备误动事件，分析3起事件的原因，总结为组态错误、通信异常、算法块缺陷、平台缺陷4类。针对不受ACP切换影响的设备组态缺陷，提出内部赋值优化方案；针对受ACP切换影响的设备组态缺陷，提出补丁升级解决通信异常问题；针对算法块缺陷，提出算法块升级方案，解决电平和脉冲指令不匹配问题；针对主控模块主从机输出不一致的平台缺陷，提出增加算法“同步”属性方案。通过对方案的实施与再验证，保证在执行ACP切换过程中设备状态和指令的无扰切换，为机组安全稳定运行提供保障。

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DOI：10.20190/j.cnki.02580918.202604025

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