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王玉涛, 杨少茹, 刘月敏, 等. PERC单晶硅太阳电池的EL图像铝主栅发黑原因的研究[J]. 太阳能, 2025,(5):74-80.
王玉涛, 杨少茹, 刘月敏, 等. PERC单晶硅太阳电池的EL图像铝主栅发黑原因的研究[J]. 太阳能, 2025,(5):74-80. DOI: 10.19911/j.1003-0417.tyn20240520.04.
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通过实验对PERC单晶硅太阳电池的EL图像铝主栅发黑现象的影响因素进行了研究并提出了解决方案。研究结果表明:1)氧化铝镀膜时温度偏低可能是导致此类太阳电池EL图像铝主栅发黑的关键因素,工艺因素叠加对其影响更加显著;2)当氧化铝镀膜过程中发生射频打火时,会导致辉光放电电压和电流波动较大,降低膜层致密性,铝主栅更容易腐蚀硅基底,进而形成外观无异常的铝主栅发黑太阳电池;3)通过优化铝浆中玻璃粉成分,可改善外观无异常PERC单晶硅太阳电池的EL图像铝主栅发黑问题。
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