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数据中心环境温度提高至32℃对存量交流列头柜小型断路器可靠性的影响分析
仿真技术 | 更新时间:2026-02-15
    • 数据中心环境温度提高至32℃对存量交流列头柜小型断路器可靠性的影响分析

    • 数据中心环境温度提高至32℃对存量交流列头柜小型断路器可靠性的影响分析

    • 电器与能效管理技术   2026年第1期 页码:71-75
    • DOI:10.16628/j.cnki.2095-8188.2026.01.010    

      中图分类号: TM561
    • 纸质出版:2026

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  • 杨锐, 李小峰, 陈嘉俊, 等. 数据中心环境温度提高至32℃对存量交流列头柜小型断路器可靠性的影响分析[J]. 电器与能效管理技术, 2026,(1):71-75. DOI: 10.16628/j.cnki.2095-8188.2026.01.010.

    杨锐, 李小峰, 陈嘉俊, et al. 数据中心环境温度提高至32℃对存量交流列头柜小型断路器可靠性的影响分析[J]. 2026, (1): 71-75. DOI: 10.16628/j.cnki.2095-8188.2026.01.010.

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