哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院
纸质出版:2025
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杨昕宇, 吴承创, 何育斌, 等. 连续通电条件下触桥结构继电器接触电阻退化机理研究[J]. 电器与能效管理技术, 2025,(2):1-5.
杨昕宇, 吴承创, 何育斌, et al. 连续通电条件下触桥结构继电器接触电阻退化机理研究[J]. 2025, (2): 1-5.
杨昕宇, 吴承创, 何育斌, 等. 连续通电条件下触桥结构继电器接触电阻退化机理研究[J]. 电器与能效管理技术, 2025,(2):1-5. DOI: 10.16628/j.cnki.2095-8188.2025.02.001.
杨昕宇, 吴承创, 何育斌, et al. 连续通电条件下触桥结构继电器接触电阻退化机理研究[J]. 2025, (2): 1-5. DOI: 10.16628/j.cnki.2095-8188.2025.02.001.
在高温环境中连续通电条件下,对触桥结构继电器的电接触可靠性开展实验研究,通过监测其接触电阻随通电时间的变化曲线,以及多个循环周期后的退化趋势,发现接触电阻具有逐渐增大的典型特征。进一步通过测试簧片力学性能参数,确认簧片的劲度系数降低以及触桥不平衡是接触电阻增加,并最终导致继电器接通失败的主要原因。
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