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连续通电条件下触桥结构继电器接触电阻退化机理研究
研究与分析 | 更新时间:2025-11-30
    • 连续通电条件下触桥结构继电器接触电阻退化机理研究

    • 连续通电条件下触桥结构继电器接触电阻退化机理研究

    • 电器与能效管理技术   2025年第2期 页码:1-5
    • DOI:10.16628/j.cnki.2095-8188.2025.02.001    

      中图分类号: TM58
    • 纸质出版:2025

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  • 杨昕宇, 吴承创, 何育斌, 等. 连续通电条件下触桥结构继电器接触电阻退化机理研究[J]. 电器与能效管理技术, 2025,(2):1-5. DOI: 10.16628/j.cnki.2095-8188.2025.02.001.

    杨昕宇, 吴承创, 何育斌, et al. 连续通电条件下触桥结构继电器接触电阻退化机理研究[J]. 2025, (2): 1-5. DOI: 10.16628/j.cnki.2095-8188.2025.02.001.

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