基于退化相似性的变应力工况下IGBT寿命预测方法

仇志杰; 郑丹; 范涛; 温旭辉

doi:10.15938/j.emc.2025.02.011

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基于退化相似性的变应力工况下IGBT寿命预测方法

更新时间：2025-10-13

- 基于退化相似性的变应力工况下IGBT寿命预测方法
- Method for remaining useful life prediction for IGBTs under variable stress conditions based on similarity of degradation
- “专家提出一种融合解析寿命模型与数据驱动模型的变应力工况下IGBT剩余使用寿命预测方法，通过试验验证其有效性，显著提高预测准确性。”
- 电机与控制学报 2025年29卷第2期页码：105-115
- 作者机构：
  
  中国科学院电工研究所高密度电磁动力与系统全国重点实验室，北京 100190
  中国科学院大学，北京 100049
- 作者简介：
  
  作者简介：仇志杰（1986—），女，硕士，工程师，研究方向为电力电子可靠性；
  郑丹（1982—），女，硕士，高级工程师，研究方向为功率器件状态监测；
  通信作者范涛
  温旭辉（1963—），女，博士，研究员，博士生导师，研究方向为电机驱动与电力电子技术应用。
- 基金信息：
  
  国家重点研发计划(2021YFB2500600)
- DOI：10.15938/j.emc.2025.02.011
  中图分类号： TM46
- 收稿：2024-10-24，
  
  纸质出版：2025-02
- 稿件说明：
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仇志杰, 郑丹, 范涛, 等. 基于退化相似性的变应力工况下IGBT寿命预测方法[J]. 电机与控制学报, 2025,29(2):105-115.

QIU Zhijie, ZHENG Dan, FAN Tao, et al. Method for remaining useful life prediction for IGBTs under variable stress conditions based on similarity of degradation[J]. Electric Machines and Control, 2025, 29(2): 105-115.
仇志杰, 郑丹, 范涛, 等. 基于退化相似性的变应力工况下IGBT寿命预测方法[J]. 电机与控制学报, 2025,29(2):105-115. DOI： 10.15938/j.emc.2025.02.011.

QIU Zhijie, ZHENG Dan, FAN Tao, et al. Method for remaining useful life prediction for IGBTs under variable stress conditions based on similarity of degradation[J]. Electric Machines and Control, 2025, 29(2): 105-115. DOI： 10.15938/j.emc.2025.02.011.

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基于退化相似性的变应力工况下IGBT寿命预测方法

Method for remaining useful life prediction for IGBTs under variable stress conditions based on similarity of degradation

DOI：10.15938/j.emc.2025.02.011