封闭条件下温度对气隙放电影响的模拟研究

郑全福; 张钊棋; 罗林根; 盛戈皞; 江秀臣

doi:10.15938/j.emc.2024.02.001

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封闭条件下温度对气隙放电影响的模拟研究

更新时间：2025-06-26

- 封闭条件下温度对气隙放电影响的模拟研究
- Simulation study on effect of temperature on partial discharge inside void defects under closed conditions
- “专家研究了温度对气隙缺陷下局部放电的影响，建立了温度控制模型，发现温度升高会使放电电流峰值下降、脉冲持续时间变短，为绝缘条件评估提供了新方法。”
- 电机与控制学报 2024年28卷第2期页码：1-10
- 作者机构：
  
  上海交通大学电气工程系，上海 200240
- 作者简介：
  
  作者简介：郑全福（1998—），男，博士，研究方向为电力设备数字孪生建模；
  张钊棋（1997—），男，博士，研究方向为短间隙流注放电及沿面放电的机理分析；
  通信作者：罗林根
  盛戈皞（1974—），男，博士，教授，研究方向为输变电设备状态监测及其智能化；
  江秀臣（1965—），男，博士，教授，研究方向为电力设备的数字化智能化状态检测。
- 基金信息：
  
  国家重点研发计划(2020YFB1709701)
- DOI：10.15938/j.emc.2024.02.001
  中图分类号： TM835
- 收稿：2023-08-31，
  
  纸质出版：2024-02
- 稿件说明：
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郑全福, 张钊棋, 罗林根, 等. 封闭条件下温度对气隙放电影响的模拟研究[J]. 电机与控制学报, 2024,28(2):1-10.

ZHENG Quanfu, ZHANG Zhaoqi, LUO Lingen, et al. Simulation study on effect of temperature on partial discharge inside void defects under closed conditions[J]. Electric Machines and Control, 2024, 28(2): 1-10.
郑全福, 张钊棋, 罗林根, 等. 封闭条件下温度对气隙放电影响的模拟研究[J]. 电机与控制学报, 2024,28(2):1-10. DOI： 10.15938/j.emc.2024.02.001.

ZHENG Quanfu, ZHANG Zhaoqi, LUO Lingen, et al. Simulation study on effect of temperature on partial discharge inside void defects under closed conditions[J]. Electric Machines and Control, 2024, 28(2): 1-10. DOI： 10.15938/j.emc.2024.02.001.

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DOI：10.15938/j.emc.2024.02.001