基于加速退化试验的漏电信号调理电路性能退化及可靠性研究

牛峰; 张博恒; 李贵衡; 戴逸华; 项石虎; 李奎

doi:10.15938/j.emc.2024.01.006

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基于加速退化试验的漏电信号调理电路性能退化及可靠性研究

更新时间：2025-06-26

- 基于加速退化试验的漏电信号调理电路性能退化及可靠性研究
- Performance degradation and reliability of leakage signal conditioning circuit based on accelerated degradation test
- “介绍了其在电子电路可靠性领域的研究进展，相关专家建立了漏电信号调理电路性能退化模型，为电子电路寿命预测及可靠度分析提供了支撑。”
- 电机与控制学报 2024年28卷第1期页码：61-68
- 作者机构：
  
  河北工业大学河北省电磁场与电器可靠性重点实验室，天津 300401
  河北工业大学省部共建电工装备可靠性与智能化国家重点实验室，天津 300401
  常熟开关制造有限公司，江苏常熟 215500
  北京蓝普锋科技有限公司，北京 102218
- 作者简介：
  
  通信作者：牛峰
  张博恒（1998—），男，硕士研究生，研究方向为电子电路可靠性；
  李贵衡（1998—），男，硕士研究生，研究方向为电机可靠性；
  戴逸华（1990—），男，工程师，研究方向为电机系统及控制；
  项石虎（1992—），男，讲师，硕士生导师，研究方向为复杂系统可靠性；
  李奎（1965—），男，教授，博士生导师，研究方向为开关电器。
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金(52322702;52077054)
- DOI：10.15938/j.emc.2024.01.006
  中图分类号： TM344.6
- 收稿：2022-11-19，
  
  纸质出版：2024-01
- 稿件说明：
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牛峰, 张博恒, 李贵衡, 等. 基于加速退化试验的漏电信号调理电路性能退化及可靠性研究[J]. 电机与控制学报, 2024,28(1):61-68.

NIU Feng, ZHANG Boheng, LI Guiheng, et al. Performance degradation and reliability of leakage signal conditioning circuit based on accelerated degradation test[J]. Electric Machines and Control, 2024, 28(1): 61-68.
牛峰, 张博恒, 李贵衡, 等. 基于加速退化试验的漏电信号调理电路性能退化及可靠性研究[J]. 电机与控制学报, 2024,28(1):61-68. DOI： 10.15938/j.emc.2024.01.006.

NIU Feng, ZHANG Boheng, LI Guiheng, et al. Performance degradation and reliability of leakage signal conditioning circuit based on accelerated degradation test[J]. Electric Machines and Control, 2024, 28(1): 61-68. DOI： 10.15938/j.emc.2024.01.006.

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