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基于场致发射电流特性的真空灭弧室触头表面微观状况的无损检测方法
电气装备及其智能运维 | 更新时间:2026-09-16
    • 基于场致发射电流特性的真空灭弧室触头表面微观状况的无损检测方法

    • 基于场致发射电流特性的真空灭弧室触头表面微观状况的无损检测方法

    • 高电压技术   2026年52卷第5期 页码:2339-2348
    • DOI:10.13336/j.1003-6520.hve.20250903    

      中图分类号:
    • 收稿:2026-05-31,

      纸质出版:2026

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  • 耿云, 姚晓飞, 丁健刚, 等. 基于场致发射电流特性的真空灭弧室触头表面微观状况的无损检测方法[J]. 高电压技术, 2026,52(5):2339-2348. DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.20250903.

    GENG Yun, YAO Xiaofei, DING Jiangang, et al. 基于场致发射电流特性的真空灭弧室触头表面微观状况的无损检测方法[J]. 2026, 52(5): 2339-2348. DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.20250903.

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