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基于合闸预击穿电弧特性分析的电容器组断路器触头劣化状态评估
电气装备及其智能运维 | 更新时间:2026-09-16
    • 基于合闸预击穿电弧特性分析的电容器组断路器触头劣化状态评估

    • 基于合闸预击穿电弧特性分析的电容器组断路器触头劣化状态评估

    • 高电压技术   2026年52卷第3期 页码:1352-1369
    • DOI:10.13336/j.1003-6520.hve.20250250    

      中图分类号:
    • 收稿:2026-03-31,

      纸质出版:2026

    移动端阅览

  • 邱震辉, 杨庆, 马飞越, 等. 基于合闸预击穿电弧特性分析的电容器组断路器触头劣化状态评估[J]. 高电压技术, 2026,52(3):1352-1369. DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.20250250.

    QIU Zhenhui, YANG Qing, MA Feiyue, et al. 基于合闸预击穿电弧特性分析的电容器组断路器触头劣化状态评估[J]. 2026, 52(3): 1352-1369. DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.20250250.

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