SF6断路器关合操作时产生的关合涌流对弧触头会造成严重的侵蚀。为了研究弧触头在关合情况下的侵蚀特性

设计了模拟的SF6断路器灭弧室

对CuW80弧触头进行了关合侵蚀实验。实验记录了每次的燃弧时间和电流峰值

并计算了100次实验后的质量损失率。每20次关合实验后

拍摄触头表面照片

测量弧触头的接触电阻和工频耐压。最后分析了SF6断路器弧触头的关合侵蚀特性并探讨了侵蚀机理。认为在关合实验中弧触头的侵蚀来源有两个:一个是关合前预击穿电弧的烧蚀

一个是烧蚀后弧触头变软后的机械磨损

并且机械磨损的量占有相当的比例不可忽略。在电流峰值18 kA

燃弧时间<2 ms

机构速度7 m/s的情况下

机械磨损过程中的质量损失率大于1.0 mg/C

这也是关合情况下触头质量损失更大的主要原因。