华北电力大学河北省输变电设备安全防御重点试验室
纸质出版:2014
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[1]王胜辉,冯宏恩,律方成.基于日盲紫外成像检测的复合绝缘子电晕放电光子数变化特性[J].高电压技术,2014,40(08):2360-2366.
王胜辉, 冯宏恩, 律方成. 基于日盲紫外成像检测的复合绝缘子电晕放电光子数变化特性[J]. 2014, 40(8): 2360-2366.
[1]王胜辉,冯宏恩,律方成.基于日盲紫外成像检测的复合绝缘子电晕放电光子数变化特性[J].高电压技术,2014,40(08):2360-2366. DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.2014.08.016.
王胜辉, 冯宏恩, 律方成. 基于日盲紫外成像检测的复合绝缘子电晕放电光子数变化特性[J]. 2014, 40(8): 2360-2366. DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.2014.08.016.
为将光子数参数用于放电强度的量化分析
以10、35、110 kV的复合绝缘子为研究对象
利用CoroCAM504紫外成像仪研究了电晕放电时
紫外光子数随放电强度、仪器增益和观测距离的变化特性。结果表明:光子数和电流脉冲峰值具有近似线性关系
且都随着电压的增加而增大;但上述3种复合绝缘子的光子数与电流脉冲峰值之间的比例系数不同。随着仪器增益的增大
光子数一般呈现出先增加后减小、在高增益时又增加的变化特性
且观测距离越近
仪器增益对光子数的影响越显著。光子数随观测距离的增大而减小
2者之间具有幂函数关系
幂指数在1.11.6之间。
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