沈阳工业大学电气工程学院
纸质出版:2014
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[1]刘晓明,孙宝龙,王尔智.双断口结构对特高压SF_6断路器电场分布的影响分析[J].高电压技术,2014,40(06):1795-1801.
刘晓明, 孙宝龙, 王尔智. 双断口结构对特高压SF断路器电场分布的影响分析[J]. 2014, 40(6): 1795-1801.
[1]刘晓明,孙宝龙,王尔智.双断口结构对特高压SF_6断路器电场分布的影响分析[J].高电压技术,2014,40(06):1795-1801. DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.2014.06.026.
刘晓明, 孙宝龙, 王尔智. 双断口结构对特高压SF断路器电场分布的影响分析[J]. 2014, 40(6): 1795-1801. DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.2014.06.026.
特高压断路器中常采用双断口或多断口串联
但串联结构在开断过程中会产生各断口间电位分布不均的情况
导致断口电场分布发生改变。为此
基于能量扰动法求得1 100 kV双断口SF6断路器灭弧断口等效电容及断口对地等效电容
确定并联电容值
进而得到双断口分压比。再采用有限元法仿真计算了断口的非对称3维电场
定量描述、对比分析了550 kV单断口灭弧系统与1 100 kV双断口灭弧系统触头沿面电场强度
得出了不同灭弧单元的电场变化规律
以及双断口结构对电场强度分布的影响。结果表明
采用双断口串联结构时
灭弧系统的断口间电压分配不均匀
且分压比随着开断距离的增大而减小;进而导致断口间电场强度以及开断故障电路时电弧重燃风险增大。因此有必要对双断口灭弧系统断口结构进行优化设计。
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