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适用于芯片化的低时延同步相量测量方法
自动化 | 更新时间:2026-03-13
    • 适用于芯片化的低时延同步相量测量方法

    • Low-latency Synchronized Phasor Measurement Method Suitable for Chip-based

    • 电网技术   2026年50卷第2期 页码:889-898
    • DOI:10.13335/j.1000-3673.pst.2024.2270    

      中图分类号: TM933.313
    • 纸质出版:2026

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  • 刘灏, 1, 张佳佳, 等. 适用于芯片化的低时延同步相量测量方法[J]. 电网技术, 2026,50(2):889-898. DOI: 10.13335/j.1000-3673.pst.2024.2270.

    刘灏, 1, 张佳佳, et al. Low-latency Synchronized Phasor Measurement Method Suitable for Chip-based[J]. 2026, 50(2): 889-898. DOI: 10.13335/j.1000-3673.pst.2024.2270.

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