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基于分布式参数退化模型的IGBT器件寿命预测方法研究
电力电子 | 更新时间：2026-02-06

    • 基于分布式参数退化模型的IGBT器件寿命预测方法研究

    • A Parameter-distributed Degradation Model Based Method for IGBT Modules Lifetime Prediction

    • “IGBT器件寿命预测研究取得新进展，专家提出基于分布式参数退化模型的寿命分布概率预测方法，有效应对器件服役寿命分散性问题，为器件寿命精准预测提供新思路。”
    • 中国电机工程学报   2025年45卷第10期 页码：4007-4017

    • DOI：10.13334/j.0258-8013.pcsee.240642    

      中图分类号： TN322.8

    • 收稿：2024-03-20，

      网络首发：2024-08-02，

      纸质出版：2025-05-20

    移动端阅览

  • 陈思宇, 李辉, 赖伟, 等. 基于分布式参数退化模型的IGBT器件寿命预测方法研究[J]. 中国电机工程学报, 2025,45(10):4007-4017. DOI： 10.13334/j.0258-8013.pcsee.240642.

    Siyu CHEN, Hui LI, Wei LAI, et al. A Parameter-distributed Degradation Model Based Method for IGBT Modules Lifetime Prediction[J]. Proceedings of the CSEE, 2025, 45(10): 4007-4017. DOI： 10.13334/j.0258-8013.pcsee.240642.

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