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我国集成电路关键技术挑战与协同创新路径
集成电路科学与工程 | 更新时间:2026-05-27
    • 我国集成电路关键技术挑战与协同创新路径

    • Key Technological Challenges and Collaborative Innovation Pathways of China's Integrated Circuits

    • 广东工业大学学报   2025年42卷第6期 页码:1-11
    • DOI:10.12052/gdutxb.250119    

      中图分类号: TP332.1;TP319;TN402
    • 纸质出版:2025

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  • 熊晓明, 詹瑞典, 饶博, 等. 我国集成电路关键技术挑战与协同创新路径[J]. 广东工业大学学报, 2025, 42(6): 1–11. DOI: 10.12052/gdutxb.250119

    Xiong Xiaoming, Zhan Ruidian, Rao Bo, et al. Key Technological Challenges and Collaborative Innovation Pathways of China's Integrated Circuits[J]. 2025, 42(6): 1-11. DOI: 10.12052/gdutxb.250119.

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