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基于YOLOv4-MP的绝缘子爆裂缺陷检测方法
综合研究 | 更新时间:2026-05-27
    • 基于YOLOv4-MP的绝缘子爆裂缺陷检测方法

    • An Insulator Burst Defect Detection Method Based on YOLOv4-MP

    • 广东工业大学学报   2023年40卷第2期 页码:15-21
    • DOI:10.12052/gdutxb.220079    

      中图分类号: TP391.4;TM216
    • 网络首发:2023-03-25,

      纸质出版:2023

    移动端阅览

  • 谢国波, 林立, 林志毅, 贺笛轩, 文刚. 基于YOLOv4-MP的绝缘子爆裂缺陷检测方法[J]. 广东工业大学学报, 2023, 40(2): 15-21. DOI: 10.12052/gdutxb.220079.

    Xie Guo-bo, Lin Li, Lin Zhi-yi, et al. An Insulator Burst Defect Detection Method Based on YOLOv4-MP[J]. 2023, 40(2): 15-21. DOI: 10.12052/gdutxb.220079.

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