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CZTSSe薄膜与Mo背电极接触特性的数值分析
更新时间:2026-05-27
    • CZTSSe薄膜与Mo背电极接触特性的数值分析

    • Numerical Analysis of Contact Characteristics between CZTSSe Thin Film and Mo Back Electrode

    • 广东工业大学学报   2020年37卷第3期 页码:106-113
    • DOI:10.12052/gdutxb.190104    

      中图分类号: TN36
    • 网络首发:2020-05-12,

      纸质出版:2020

    移动端阅览

  • 庄楚楠, 许佳雄, 林俊辉. CZTSSe薄膜与Mo背电极接触特性的数值分析[J]. 广东工业大学学报, 2020, 37(3): 106-113. DOI: 10.12052/gdutxb.190104.

    Zhuang Chu-nan, Xu Jia-xiong, Lin Jun-hui. Numerical Analysis of Contact Characteristics between CZTSSe Thin Film and Mo Back Electrode[J]. 2020, 37(3): 106-113. DOI: 10.12052/gdutxb.190104.

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