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红外热像联合紫外成像检测绝缘子污秽
研究与试验 | 更新时间:2025-11-18
    • 红外热像联合紫外成像检测绝缘子污秽

    • Insulator contamination measuring of infrared thermal image method with ultraviolet image method

    • 湖南电力   2016年36卷第2期 页码:54-56
    • 中图分类号: TM216
    • 纸质出版:2016

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  • [1]罗志平,唐志剑,张国旗,陶霰韬,邓维,陈柯良.红外热像联合紫外成像检测绝缘子污秽[J].湖南电力,2016,36(02):54-56. DOI:

    LUO Zhiping, TANG Zhijian, ZHANG Guoqi, et al. Insulator contamination measuring of infrared thermal image method with ultraviolet image method[J]. 2016, 36(2): 54-56. DOI:

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