电子元器件的可靠性筛选

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电子元器件的可靠性筛选

综合研究 | 更新时间：2026-05-27

- 电子元器件的可靠性筛选
- The Reliable Stress Screening of Electronic Components
- 广东工业大学学报 2006年23卷第1期页码：67-70
- 作者机构：
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  信息产业部科研预研基金资助项目(H122003A001)
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2006
- 稿件说明：
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杨少华, 吴福根, 黄瑞毅. 电子元器件的可靠性筛选[J]. 广东工业大学学报, 2006, 23(1): 67-70.

YANG Shao-hua, Wu Fu-gen, HUANG Rui-yi. The Reliable Stress Screening of Electronic Components[J]. 2006, 23(1): 67-70.
杨少华, 吴福根, 黄瑞毅. 电子元器件的可靠性筛选[J]. 广东工业大学学报, 2006, 23(1): 67-70. DOI：

YANG Shao-hua, Wu Fu-gen, HUANG Rui-yi. The Reliable Stress Screening of Electronic Components[J]. 2006, 23(1): 67-70. DOI：

论述了电子元器件在各种应力下的可能失效模式和相应的筛选方法

重点论述了环境应力筛选

以及环境应力筛选的加速因子和筛选度的计算

为电子产品选择合理的可靠性筛选应力水平提供了指导.最后以工程实例说明了可靠性应力筛选的效果.

In this paper

the failure models of electronic components under a variety of stresses are introduced

as well as its corresponding reliable stress screening methods.Meanwhile

the paper mainly emphasizes on the environmental stress screening methods

accelerated factor and environmental factor

which provide proper guidance for the electronic products to choose reasonable stress level in reliable stress screening.Finally

by giving an engineering test example

the effects of the reliable stress screening are(illustrated.)

周玉芬,高锡俊,李建华,范卫军. 环境应力筛选加速系数[J]. 航空精密制造技术. 2003(05)

王少萍编著.工程可靠性[M]. 北京航空航天大学出版社, 2000

孙青等编著.电子元器件可靠性工程[M]. 电子工业出版社, 2002

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