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基于高光谱技术的绝缘子污秽含水量检测
电介质与电气绝缘 | 更新时间:2025-12-08
    • 基于高光谱技术的绝缘子污秽含水量检测

    • Moisture Content Detection of Insulator Contamination Based on Hyperspectral Technology

    • 高电压技术   2020年46卷第4期 页码:1396-1404
    • 网络出版:2020-04-30,

      纸质出版:2020

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  • 马欢, 郭裕钧, 张血琴, 等. 基于高光谱技术的绝缘子污秽含水量检测[J]. 高电压技术, 2020,46(4):1396-1404. DOI:

    MA Huan, GUO Yujun, ZHANG Xueqin, et al. Moisture Content Detection of Insulator Contamination Based on Hyperspectral Technology[J]. 2020, 46(4): 1396-1404. DOI:

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