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基于高光谱技术的绝缘子污秽成分识别方法
电介质与电气绝缘 | 更新时间:2025-12-08
    • 基于高光谱技术的绝缘子污秽成分识别方法

    • Identification Method of Insulator Pollution Components Based on Hyperspectral Technology

    • 高电压技术   2020年46卷第11期 页码:4023-4030
    • 网络出版:2020-11-30,

      纸质出版:2020

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  • 邱彦, 郭裕钧, 张血琴, 等. 基于高光谱技术的绝缘子污秽成分识别方法[J]. 高电压技术, 2020,46(11):4023-4030. DOI:

    QIU Yan, GUO Yujun, ZHANG Xueqin, et al. Identification Method of Insulator Pollution Components Based on Hyperspectral Technology[J]. 2020, 46(11): 4023-4030. DOI:

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