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基于Moffat休息型HMM退化过程的220 kV断路器可靠性预测
电气装备及其智能运维 | 更新时间:2025-12-08
    • 基于Moffat休息型HMM退化过程的220 kV断路器可靠性预测

    • Reliability Prediction of 220 kV Circuit Breakers Based on Moffat Rest Hidden Markov Degradation Process

    • 高电压技术   2021年47卷第6期 页码:2108-2116
    • 网络出版:2021-06-30,

      纸质出版:2021

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  • 崔昊杨, 夏晟, 周坤, 等. 基于Moffat休息型HMM退化过程的220 kV断路器可靠性预测[J]. 高电压技术, 2021,47(6):2108-2116. DOI:

    CUI Haoyang, XIA Sheng, ZHOU Kun, et al. Reliability Prediction of 220 kV Circuit Breakers Based on Moffat Rest Hidden Markov Degradation Process[J]. 2021, 47(6): 2108-2116. DOI:

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