您当前的位置：
首页 >
文章列表页 >
GIL支柱绝缘子嵌件-环氧界面缺陷演化过程与放电脆裂机制
更新时间：2026-09-17

    • GIL支柱绝缘子嵌件-环氧界面缺陷演化过程与放电脆裂机制

    • GIL支柱绝缘子嵌件-环氧界面缺陷演化过程与放电脆裂机制

    • 高电压技术   2024年50卷第1期

    • 网络首发：2024-01-31，

      纸质出版：2024

    移动端阅览

  • GIL支柱绝缘子嵌件-环氧界面缺陷演化过程与放电脆裂机制[J]. 高电压技术, 2024,50(1). DOI：

    GIL支柱绝缘子嵌件-环氧界面缺陷演化过程与放电脆裂机制[J]. 2024, 50(1). DOI：

  •  
  •  
icon
试读结束，您可以激活您的VIP账号继续阅读。
去激活 >
icon
试读结束，您可以通过登录账户，到个人中心，购买VIP会员阅读全文。
已是VIP会员？
去登录 >

0

浏览量

65

下载量

11

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。
提交
工具集
下载
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

电子辐照下金属微粒对聚酰亚胺绝缘构件电场的影响
直流GIS/GIL绝缘气固界面电荷积聚特性与调控研究进展(二)：表面改性方法
考虑动态时空特性和风速-功率转换机理的超短期风电场功率预测
新型电力系统最小惯量需求评估进展
模块化多电平高压直挂储能系统的电池簇故障容错控制

相关作者

暂无数据

相关机构

暂无数据
0