분쇄 시스템의 고장을 신속하고 정확하게 진단하기 위해, 분쇄 시스템의 운영 특성 및 고장 특성에 기초하여 비선형 상태 추정을 기반으로 한 분쇄 시스템 고장 진단 방법이 제안되었습니다, Mahalanobis 거리에 기반한 과정 메모리 매트릭스 구성 방법이 제안되었습니다. 고장 데이터 샘플을 전처리하고 전처리된 데이터를 사용하여 프로세스 메모리 매트릭스를 구성하여 중복 데이터를 효과적으로 줄이고 진단 효율을 향상시키고 진단의 실용성과 안정성을 높입니다.

분쇄 시스템; 고장 진단; 비선형; 상태 추정; Mahalanobis 거리; 프로세스 메모리 마트릭스; 중복 데이터; 진단 효율