Durch die Messung der Korngrößen der Laves-Phase an den Kriechbruchproben des P92-Stahls weit entfernt vom Bruch durch Rasterelektronenmikroskopie sowie die Berechnung von Größen der Teilchenfläche, des Flächenanteils und der Dichte der Laves-Phase wurden die Einflüsse von Spannung und Temperatur auf die Ausscheidung der Laves-Phase untersucht. Die Ergebnisse zeigten, dass die Spannung das Wachstum der Laves-Phase im untersuchten Bereich fördert, die Temperatur jedoch die Keimbildung der Laves-Phase hemmt, wobei der Einfluss der Temperatur deutlicher ist, da die Größe der Laves-Phase bei 650 ℃ deutlich größer ist als bei 600 ℃.

P92-Stahl; Laves-Phase; Ausscheidung; Spannung; Temperatur