Research Status of Metallized Film Capacitor Failures

孙鑫博; 邹白苏; 王明; 陈日升; 冯梦佳

doi:10.3969/j.issn.1008-0198.2025.06.012

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Research Status of Metallized Film Capacitor Failures

更新时间：2026-02-06

- Research Status of Metallized Film Capacitor Failures
- Vol. 45, Issue 6, Pages: 91-96(2025)
- 作者机构：
  
  1. 株洲中车时代电气股份有限公司,湖南,株洲,412001
  2. 智能配用电装备与系统全国重点实验室（河北工业大学）,天津,300401
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.3969/j.issn.1008-0198.2025.06.012
  CLC： TM532
- Online First：13 January 2026，
  
  Published：2025
- 稿件说明：
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孙鑫博, 邹白苏, 王明, 陈日升, 冯梦佳. 金属化薄膜电容器失效研究现状[J]. 湖南电力, 2025, 45(6): 91-96.

孙鑫博, 邹白苏, 王明, et al. Research Status of Metallized Film Capacitor Failures[J]. 2025, 45(6): 91-96.
孙鑫博, 邹白苏, 王明, 陈日升, 冯梦佳. 金属化薄膜电容器失效研究现状[J]. 湖南电力, 2025, 45(6): 91-96. DOI： 10.3969/j.issn.1008-0198.2025.06.012.

孙鑫博, 邹白苏, 王明, et al. Research Status of Metallized Film Capacitor Failures[J]. 2025, 45(6): 91-96. DOI： 10.3969/j.issn.1008-0198.2025.06.012.

摘要

随着应用场景的扩展和工作环境的严苛化

金属化薄膜电容器的失效问题日益凸显

成为制约电力系统可靠性的瓶颈。从薄膜材料失效与金属化薄膜电容器器件失效两个维度出发

系统分析金属化薄膜电容器的失效机理

重点阐述薄膜微观失效与器件宏观失效之间的内在联系与本质区别

并总结电、热及机械等应力场作用下金属化薄膜电容器性能演变规律

最后提出失效防护策略与技术改进

为金属化薄膜电容器可靠性设计和寿命预测提供理论支撑。

Abstract

With the expansion of application scenarios and the intensification of working environments

the failure issues of metallized film capacitors have become increasingly prominent

emerging as a critical constraint on the reliability of power systems. Starting from the two dimensions of film material failure and metallized film capacitor device failure

this paper systematically analyzes the failure mechanisms of metallized film capacitors

with a focus on elaborating the intrinsic connections and fundamental differences between microscopic film failure and macroscopic device failure

and summarizes the evolution patterns of metallized film capacitor performance under multi-field effects including electric field

temperature

and mechanical stress. Finally

failure protection strategies and technical improvements are proposed to provide a theoretical foundation for the reliability design and lifetime prediction of metallized film capacitors.

关键词

Keywords

references

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