PERC单晶硅太阳电池的EL图像铝主栅发黑原因的研究

doi:10.19911/j.1003-0417.tyn20240520.04

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PERC单晶硅太阳电池的EL图像铝主栅发黑原因的研究

更新时间：2025-10-12

- PERC单晶硅太阳电池的EL图像铝主栅发黑原因的研究
- Issue 5, Pages: 74-80(2025)
- 作者机构：
  
  晶澳太阳能科技股份有限公司
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.19911/j.1003-0417.tyn20240520.04
  CLC： TM914.41;TP391.41
- Published：2025
- 稿件说明：
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[J]. 2025, (5): 74-80.
DOI：

[J]. 2025, (5): 74-80. DOI： 10.19911/j.1003-0417.tyn20240520.04.

摘要

通过实验对PERC单晶硅太阳电池的EL图像铝主栅发黑现象的影响因素进行了研究并提出了解决方案。研究结果表明：1)氧化铝镀膜时温度偏低可能是导致此类太阳电池EL图像铝主栅发黑的关键因素，工艺因素叠加对其影响更加显著；2)当氧化铝镀膜过程中发生射频打火时，会导致辉光放电电压和电流波动较大，降低膜层致密性，铝主栅更容易腐蚀硅基底，进而形成外观无异常的铝主栅发黑太阳电池；3)通过优化铝浆中玻璃粉成分，可改善外观无异常PERC单晶硅太阳电池的EL图像铝主栅发黑问题。

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关键词

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references

张福庆,李文涛,张若凡,胡明强,张朔龙.PERC背钝化工艺卡点位置缺陷导致EL不良研究[J].太阳能学报,2024(08).

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