Published:1975
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[J]. Thermal power generation, 1975, (3): 46-60.
DOI:
[J]. Thermal power generation, 1975, (3): 46-60. DOI: 10.19666/j.rlfd.1975.03.009.
引言新曝光图除了能给出获得一定黑度的底片所需的曝光条件外
还能同时得到透度计灵敏度这一重要参数。本文通过对新曝光图的介绍
综述了国外近些年来在X射线探伤技术中所采用的一些新概念和实验结果。这不仅是制作新曝光图所需要的
而且在定量地研究X射线照相的许多其他问题时
都要涉及到。
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