高速热像法进行无损检验

doi:10.19666/j.rlfd.1974.02.012

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高速热像法进行无损检验

更新时间：2025-09-28

- 高速热像法进行无损检验
- Thermal Power Generation Issue 2, Pages: 67-69(1974)
- 作者机构：
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- DOI：10.19666/j.rlfd.1974.02.012
  CLC：
- Published：1974
- 稿件说明：
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[J]. Thermal power generation, 1974, (2): 67-69.
DOI：

[J]. Thermal power generation, 1974, (2): 67-69. DOI： 10.19666/j.rlfd.1974.02.012.

摘要

前言无损检验领域中热像法的价值近五年来急剧增加

应用范围亦迅速扩大。进展迅速的主要原因之一是由于仪器本身有了很大改进。高速扫描器所必需的具有短时间常数的非常灵敏的探测器在当前有了实用价值。从而有可能制造出较以前快500到1000倍的仪器。除高速外温度响应和灵敏度均能满足要求。在以前的热像领域中使用红外扫描器的工作者用10～30分钟才能获得一张图片

而

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<正> 前言无损检验领域中热像法的价值近五年来急剧增加

而

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