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数据中心环境温度提高至32℃对存量交流列头柜小型断路器可靠性的影响分析
更新时间:2026-02-15
    • 数据中心环境温度提高至32℃对存量交流列头柜小型断路器可靠性的影响分析

    • Issue 1, Pages: 71-75(2026)
    • DOI:10.16628/j.cnki.2095-8188.2026.01.010    

      CLC: TM561
    • Published:2026

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  • 杨锐, 李小峰, 陈嘉俊, et al. 数据中心环境温度提高至32℃对存量交流列头柜小型断路器可靠性的影响分析[J]. 2026, (1): 71-75. DOI: 10.16628/j.cnki.2095-8188.2026.01.010.

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