连续通电条件下触桥结构继电器接触电阻退化机理研究

杨昕宇; 吴承创; 何育斌; 张超; 任万滨

doi:10.16628/j.cnki.2095-8188.2025.02.001

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连续通电条件下触桥结构继电器接触电阻退化机理研究

更新时间：2025-11-30

- 连续通电条件下触桥结构继电器接触电阻退化机理研究
- Issue 2, Pages: 1-5(2025)
- 作者机构：
  
  哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.16628/j.cnki.2095-8188.2025.02.001
  CLC： TM58
- Published：2025
- 稿件说明：
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杨昕宇, 吴承创, 何育斌, et al. 连续通电条件下触桥结构继电器接触电阻退化机理研究[J]. 2025, (2): 1-5.
DOI：

杨昕宇, 吴承创, 何育斌, et al. 连续通电条件下触桥结构继电器接触电阻退化机理研究[J]. 2025, (2): 1-5. DOI： 10.16628/j.cnki.2095-8188.2025.02.001.

摘要

在高温环境中连续通电条件下，对触桥结构继电器的电接触可靠性开展实验研究，通过监测其接触电阻随通电时间的变化曲线，以及多个循环周期后的退化趋势，发现接触电阻具有逐渐增大的典型特征。进一步通过测试簧片力学性能参数，确认簧片的劲度系数降低以及触桥不平衡是接触电阻增加，并最终导致继电器接通失败的主要原因。

Abstract

关键词

Keywords

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