通过搭建针-板电极电晕老化实验平台，对间隙施加25 kV直流电压并持续24 h

通过系统改变针-板间隙距离以调节作用于样品表面的电场强度，对比分析了不同间隙下硅橡胶憎水性与吸水性能的变化规律，并进一步探讨了其他性能劣化的微观机理。实验结果表明，电晕放电产生的高速粒子撞击导致硅橡胶表面形成孔洞、沟壑与裂纹，使其微观形貌由光滑转为粗糙，造成憎水性与吸水性下降，绝缘性能发生衰退。此外，针-板间隙距离对老化程度具有显著影响：间隙越小，电晕放电对硅橡胶性能的劣化作用越严重。通过调节针-板间隙距离，揭示了不同电场强度与硅橡胶电晕老化性能衰退程度之间的关联规律，为延缓绝缘材料老化提供了实验依据。