大规格电缆半导电屏蔽体积电阻率检测工艺改进

doi:10.16105/j.dxdl.1672-6901.20240095

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大规格电缆半导电屏蔽体积电阻率检测工艺改进

更新时间：2025-10-18

- 大规格电缆半导电屏蔽体积电阻率检测工艺改进
- Issue 1, Pages: 55-60(2025)
- 作者机构：
  
  福建省电线电缆产品质量监督检验中心
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.16105/j.dxdl.1672-6901.20240095
  CLC： TM247
- Published：2025
- 稿件说明：
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[J]. 2025, (1): 55-60.
DOI：

[J]. 2025, (1): 55-60. DOI： 10.16105/j.dxdl.1672-6901.20240095.

摘要

半导电屏蔽体积电阻率是反馈电缆电性能的重要指标之一。目前，检测大规格电缆半导电屏蔽体积电阻率存在手动制样表面不平整、制样效率低、电阻检测数据不稳定等问题。文中采用大规格切割机，解决大规格电缆的制样问题；通过改进工艺，制作固定模具和铜片模具，以固定模具法代替自粘铜带法检测半导电绝缘屏蔽体积电阻率，以铜片模具法代替涂导电膏法检测半导电导体屏蔽体积电阻率；同时，以64/110 kV电缆为例，选取不同标称截面面积的电缆进行半导电屏蔽体积电阻率的对比试验。结果表明，新的工艺和检测方法改进了电缆半导电屏蔽体积电阻率的检测效率，提高了检测数据的稳定性，可满足试验要求。

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