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基于YOLOv8目标检测模型的绝缘子沿面放电缺陷识别方法
更新时间:2026-09-24
    • 基于YOLOv8目标检测模型的绝缘子沿面放电缺陷识别方法

    • Vol. 52, Issue 9, Pages: 4476-4486(2026)
    • DOI:10.13336/j.1003-6520.hve.20251189    

      CLC:
    • Received:30 September 2026,

      Published:2026

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  • HE Yifan, FU Zhishuo, GUI Yuan, et al. 基于YOLOv8目标检测模型的绝缘子沿面放电缺陷识别方法[J]. 2026, 52(9): 4476-4486. DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.20251189.

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