多串并联绝缘子交直流污闪特性

张楚岩; 王黎明; 周军; 张军广; 赵晨龙; 关志成

doi:10.13336/j.1003-6520.hve.2014.11.009

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多串并联绝缘子交直流污闪特性

更新时间：2025-12-08

- 多串并联绝缘子交直流污闪特性
- Vol. 40, Issue 11, Pages: 3357-3364(2014)
- 作者机构：
  
  清华大学深圳研究生院2. 中国电力科学研究院
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13336/j.1003-6520.hve.2014.11.009
  CLC： TM216
- Published：2014
- 稿件说明：
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[1]张楚岩,王黎明,周军,张军广,赵晨龙,关志成.多串并联绝缘子交直流污闪特性[J].高电压技术,2014,40(11):3357-3364.

张楚岩, 王黎明, 周军, et al. 多串并联绝缘子交直流污闪特性[J]. 2014, 40(11): 3357-3364.
[1]张楚岩,王黎明,周军,张军广,赵晨龙,关志成.多串并联绝缘子交直流污闪特性[J].高电压技术,2014,40(11):3357-3364. DOI： 10.13336/j.1003-6520.hve.2014.11.009.

张楚岩, 王黎明, 周军, et al. 多串并联绝缘子交直流污闪特性[J]. 2014, 40(11): 3357-3364. DOI： 10.13336/j.1003-6520.hve.2014.11.009.

摘要

特高压等级线路中为满足机械特性的需要而应用到多串并联形式的绝缘子串。为此

分别在交流和直流电压下通过人工污秽试验研究了多串并联绝缘子的污闪特性

试验中分别采用了2联、3联、4联以及6联的结构。试验结果表明

多串并联绝缘子的污闪电压比单串低

其原因除了绝缘子并联串数的增加导致其污闪概率的升高外

还受到并联串间放电产生的电离空气的影响。并联数<4时

多串并联绝缘子的污闪电压比单串降低约4%;并联数≥4时

污闪电压降低超过10%。建议在实际工程中使用多串并联的形式时

将瓷绝缘子的片数在原基础上增加8%

复合绝缘子的串长增加5%。研究结论可为特高压输电线路外绝缘的设计与建设提供参考。

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