SF断路器弧触头的关合侵蚀特性

丁璨; 原浠超; 李志兵; 袁召; 潘垣; 何俊佳

doi:10.13336/j.1003-6520.hve.2014.10.040

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SF断路器弧触头的关合侵蚀特性

更新时间：2025-12-08

- SF断路器弧触头的关合侵蚀特性
- Vol. 40, Issue 10, Pages: 3228-3234(2014)
- 作者机构：
  
  华中科技大学电气与电子工程学院强电磁工程与新技术国家重点实验室2. 中国电力科学研究院
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13336/j.1003-6520.hve.2014.10.040
  CLC： TM561.3
- Published：2014
- 稿件说明：
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[1]丁璨,原浠超,李志兵,袁召,潘垣,何俊佳.SF_6断路器弧触头的关合侵蚀特性[J].高电压技术,2014,40(10):3228-3234.

丁璨, 原浠超, 李志兵, et al. SF断路器弧触头的关合侵蚀特性[J]. 2014, 40(10): 3228-3234.
[1]丁璨,原浠超,李志兵,袁召,潘垣,何俊佳.SF_6断路器弧触头的关合侵蚀特性[J].高电压技术,2014,40(10):3228-3234. DOI： 10.13336/j.1003-6520.hve.2014.10.040.

丁璨, 原浠超, 李志兵, et al. SF断路器弧触头的关合侵蚀特性[J]. 2014, 40(10): 3228-3234. DOI： 10.13336/j.1003-6520.hve.2014.10.040.

摘要

SF6断路器关合操作时产生的关合涌流对弧触头会造成严重的侵蚀。为了研究弧触头在关合情况下的侵蚀特性

设计了模拟的SF6断路器灭弧室

对CuW80弧触头进行了关合侵蚀实验。实验记录了每次的燃弧时间和电流峰值

并计算了100次实验后的质量损失率。每20次关合实验后

拍摄触头表面照片

测量弧触头的接触电阻和工频耐压。最后分析了SF6断路器弧触头的关合侵蚀特性并探讨了侵蚀机理。认为在关合实验中弧触头的侵蚀来源有两个:一个是关合前预击穿电弧的烧蚀

一个是烧蚀后弧触头变软后的机械磨损

并且机械磨损的量占有相当的比例不可忽略。在电流峰值18 kA

燃弧时间<2 ms

机构速度7 m/s的情况下

机械磨损过程中的质量损失率大于1.0 mg/C

这也是关合情况下触头质量损失更大的主要原因。

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