重频电磁脉冲对可控硅触发系统的电磁干扰

冯德仁; 姚锋; 刘梦菲; 何山红; 车文荃; 熊瑛

doi:10.13336/j.1003-6520.hve.2014.09.012

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重频电磁脉冲对可控硅触发系统的电磁干扰

更新时间：2025-12-08

- 重频电磁脉冲对可控硅触发系统的电磁干扰
- Vol. 40, Issue 9, Pages: 2693-2698(2014)
- 作者机构：
  
  安徽工业大学电气与信息工程学院2. 南京理工大学电子工程与光电技术学院弹道国防科技重点实验室
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13336/j.1003-6520.hve.2014.09.012
  CLC： TN34
- Published：2014
- 稿件说明：
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[1]冯德仁,姚锋,刘梦菲,何山红,车文荃,熊瑛.重频电磁脉冲对可控硅触发系统的电磁干扰[J].高电压技术,2014,40(09):2693-2698.

冯德仁, 姚锋, 刘梦菲, et al. 重频电磁脉冲对可控硅触发系统的电磁干扰[J]. 2014, 40(9): 2693-2698.
[1]冯德仁,姚锋,刘梦菲,何山红,车文荃,熊瑛.重频电磁脉冲对可控硅触发系统的电磁干扰[J].高电压技术,2014,40(09):2693-2698. DOI： 10.13336/j.1003-6520.hve.2014.09.012.

冯德仁, 姚锋, 刘梦菲, et al. 重频电磁脉冲对可控硅触发系统的电磁干扰[J]. 2014, 40(9): 2693-2698. DOI： 10.13336/j.1003-6520.hve.2014.09.012.

摘要

针对重频电磁脉冲（EMP）干扰现象

以可控硅门极触发电路为研究对象

进行了门极共地耦合电磁干扰的理论研究

并针对重频EMP环境下可控硅触发的可靠性

分别进行了不同重频EMP数量与不同重频EMP时间间隔下可控硅的触发输出实验。结果表明:重频EMP会影响可控硅的触发

重频EMP数量增多与间隔减小均使可控硅误触发的可能性增大。对比理论分析与实验结果

认为重频EMP干扰是由于重频EMP累积效应与重频EMP高频分量增强从而导致交互作用耦合增强所引起。

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