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基于日盲紫外成像检测的复合绝缘子电晕放电光子数变化特性
更新时间:2025-12-08
    • 基于日盲紫外成像检测的复合绝缘子电晕放电光子数变化特性

    • Vol. 40, Issue 8, Pages: 2360-2366(2014)
    • DOI:10.13336/j.1003-6520.hve.2014.08.016    

      CLC: TM216
    • Published:2014

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  • 王胜辉, 冯宏恩, 律方成. 基于日盲紫外成像检测的复合绝缘子电晕放电光子数变化特性[J]. 2014, 40(8): 2360-2366. DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.2014.08.016.

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