A Study of the Measurement of Lengthways Displacement Applying ESPI

Zhang Qiao-fen; SHI Zhi-wei; Wang Kun

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A Study of the Measurement of Lengthways Displacement Applying ESPI

更新时间：2026-05-27

- A Study of the Measurement of Lengthways Displacement Applying ESPI
- Vol. 25, Issue 4, Pages: 49-51(2008)
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  CLC：
- Online First：01 March 2008，
  
  Published：2008
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张巧芬, 石智伟, 王昆. 基于CCD的电子散斑干涉系统中离面位移的测定[J]. 广东工业大学学报, 2008, 25(4): 49-51.

Zhang Qiao-fen, SHI Zhi-wei, Wang Kun. A Study of the Measurement of Lengthways Displacement Applying ESPI[J]. 2008, 25(4): 49-51.
张巧芬, 石智伟, 王昆. 基于CCD的电子散斑干涉系统中离面位移的测定[J]. 广东工业大学学报, 2008, 25(4): 49-51. DOI：

Zhang Qiao-fen, SHI Zhi-wei, Wang Kun. A Study of the Measurement of Lengthways Displacement Applying ESPI[J]. 2008, 25(4): 49-51. DOI：

摘要

简要介绍电子散斑干涉系统的组成部分、散斑干涉原理以及离面位移测量的检测原理

并采用了最新处理光学信息的CCD测量技术

利用软件画出测试表面受力变形后的三维重构图

同时得出变形后物体在X方向和Y方向的离面位移.

Abstract

A brief introduction to the composition of the ESPI(electric speckle pattern interferometry) is presented.It expounds the interferometry principle of Lengthways Displacement measurement

getting the 3-D lengthways displacement using CCD technology and image processing sofeware. 更多还原

关键词

Keywords

references

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