电子跨接器可控硅老化引发灭磁回路隐性故障机理与防治措施研究

郑鸿

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电子跨接器可控硅老化引发灭磁回路隐性故障机理与防治措施研究

更新时间：2026-04-24

- 电子跨接器可控硅老化引发灭磁回路隐性故障机理与防治措施研究
- Vol. 45, Issue 1, Pages: 115-120(2026)
- 作者机构：
  
  广西桂冠电力股份有限公司大化水力发电总厂
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC： TV738
- Published：2026
- 稿件说明：
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郑鸿. 电子跨接器可控硅老化引发灭磁回路隐性故障机理与防治措施研究[J]. 2026, 45(1): 115-120.
DOI：

郑鸿. 电子跨接器可控硅老化引发灭磁回路隐性故障机理与防治措施研究[J]. 2026, 45(1): 115-120. DOI：

摘要

针对某水电厂因励磁系统电子跨接器可控硅老化击穿引发的灭磁电阻烧毁事故，开展全过程案例研究。通过故障时序重构与多源数据融合分析，揭示“器件老化→隐性导通→电阻热击穿”的三级故障跃迁链。研究提出基于全周期管理的防治体系，并构建可控硅健康状态AI预测模型(EHAM v1.0)。现场应用验证了该模型与专项检测方法的有效性，可为同类型设备的状态评估与预测性维护提供系统性技术参考。

Abstract

关键词

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